Fischione Instruments

Fischione Instruments fue fundada en el año 1966 por Eugene A. Fischione. Eugene ganó una gran experiencia en el desarrollo de equipamiento para la microscopia electrónica debido al trabajo que desempeñó en en el Centro Tecnico siderúrgico de Estados Unidos (entonces el Centro  de Investigación del Acero) durante los años 1956 al 1977. Eugene pudo participar de primera mano en el desarrollo de las herramientas necesarias para el trabajo con la recien nacida técnica de la microscopia electrónica. Desde el principio sus contribuciones se centraron el desarrollo y fabricación de instrumentación experimental.

Según fue avanzando la tecnología, la necesidad de desarrollar productos que ayudas a preparar muestras para su observación y análisis por microscopía electrónica fue también incrementando.

En colaboración con cientificos de materiales de primer nivel, Eugene Fischione desarrolló el primer electropulidor automático de doble cañon basado en la técnica de la electrólisis. Desde un espesor relativamente delgado, el sistema desarrollado por el Sr. Fischione consiguía reducir el espesor de la muestra para permitir su observación directa por un microscopio electrónico.

Los equipos de electropulido, herederos de esa tecnología siguen aún su vida comercial y estan presente en laboratorios de microscopía electrónica de más de 40 paises.

Fischione Instruments











En 1986 la compañia comenzó a ser dirigida por Paul E. Fichione, segunda generación de la famlia, quien estableció las nuevas lineas de futuro de la compañia así como inició el desarrollo de nuevos productos:
  • Equipamiento complementario a los sistemas de electropulido
  • Instrumentos de preparación de muestras que se ajustaran a las necesidades cambiantes del estudio por microscopia electrónica de transmisión de materiales avanzados de investigación (cerámicos, semiconductores, superconductores, y composiciones metálicas).
  • Tecnología especializada de soportes de muestra para la mejorar la exposición de la muestra a la optica de la microscopía electrónica
  • Detectores de resolución ultra-elevada

El año 1995 supuso una revolución en el mundo de la microscopía electrónica con el lanzamiento del modelo 1020. El limpiador de Fischione por plasma utiliza un plasma de baja energía para eliminar contaminación orgánica de muestras de microscopía electrónica de transmisión. La tecnología patentada es critica para conseguir la correcta visualización de muestras mediante la tecnología de microscopia electrónica de transmisión más avanzada. Otros fabricantes han propuesto soluciones alternativas basadas en tecnología genérica de plasma en baja presión o incluso ozono, pero ninguno ha conseguido aún alcanzar el rendimiento y delicadeza de la tecnología de baja corriente que incorporan los plasma cleaners de Fischione.

El lanzamiento del 1020 fue la primera vez que Fischcione Instruments estrenaba y adaptaba una tecnología existente en el campo de la preparación de muestras para microscopia electrónica lo que le hizo ganar una merecida reputación como suministrador de privilegio, trabajando con los principales fabricantes TEM del mundo.

En 1998, Fischione Instruments lanzó el primer detector de campo oscuro anular que proporciona imágenes de microscopía electrónica de barrido / transmisión (STEM) de alta resolución.

El desarrollo de soportes que mejoraran la exposición de las muestras al paso de electrones para el estudio de su superficie y composición por microscopía electrónica llegó de la mano del primer soporte tomográfico en el año 2002. Más tarde la familia de soportes tomográficos de Fischione se fue completando a lo largo de los siguientes años.

Debido a la busqueda en el desarrollo de nuevas herramientas que ofrecieran mejores sistemas de preparación de muestras para TEM, muchas de éstas técnicas fueron también extendidas a la preparación de muestras para microscopía electrónica de barrido (SEM). Así en el año 2003 Fischione lanzó al mercado el modelo 1030 (ASaP). Un equipo de preparación de muestras que combinaba en un sólo sistema los beneficios de la limpieza por plasma, el etching por haz de iones, RIE, y recubrimiento por sputter de alta resolución.

El año 2004 vió el final del desarrollo del nuevo sistema 1040 NanoMill. El equipo se diseñó como sistema post FIB, como base para mejorar las muestras antes de su observación por un TEM de alta resolución. Convirtiéndose de esta forma en el primer adelgazador iónico de haz estrecho, con energías tan bajas como 50 eV y un diámetro de haz tan pequeño como 1 µm.

Basado en la tecnología de control de haz desarrollada para el NanoMill®, Fischione lanzó al mercado el adelgazador iónico de haz ancho 1050 (sustituido más tarde por el 1051) que puso fin comercial al modelo 1010. El 1050, es un adelgazador iónico estándar que conjuga la alta energía y la baja energía, para crear muestras delgadas transparentes a los electrones para su visualización por microscopios electrónicos de transmisión.

De nuevo, la tecnología de preparación de muestras para TEM fue importada para microscopía de barrido, y así más tarde se lanzó el modelo 1060 (sustituido por el 1061), diseñado para mejorar la superficie de muestras antes de su observación en un SEM y detección de retrodispersados (EBSD).

Hoy los equipos de Fischione Instruments pueden encontrarse en más de 500 laboratorios de investigación de todo el mundo. Sus usuarios son microscopistas, investigadores de materiales, estudiosos de la siderurgía, fabricantes de semiconductores, empresas de investigación de materiales nucleares y médicos, compañías de aceros, automoción, aeroespacial y comunicaciones, al igual que muchos departamentos de investigación de la defensa de Estados Unidos.

Gama de equipos fabricados por Fischione Instruments:

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