A partir de 1986, bajo la dirección de Paul E. Fischione, la compañía expandió sus horizontes, desarrollando equipos complementarios para preparación de muestras en diversos campos de investigación, como cerámicos, semiconductores y superconductores. Fischione también innovó en tecnología de soportes portamuestras para microscopios TEM para mejorar la exposición y resolución en microscopía electrónica.

Uno de los hitos clave fue el lanzamiento en 1995 del modelo 1020, el limpiador por plasma (plasma cleaning) de baja energía, que ha definido el estándar en la eliminación de contaminación orgánica para una visualización precisa en TEM. La tecnología patentada basada en plasma ICP sigue siendo insuperable por sus competidores, que han intentado replicarla sin éxito.

En 1998, Fischione presentó el primer detector de campo oscuro anular, llevando la resolución en STEM (microscopía electrónica de barrido/transmisión) a niveles inéditos. En 2002, la compañía también introdujo el primer soporte portamuestras tomográfico, mejorando la exposición de muestras a los electrones para un análisis más detallado.

En 2003, Fischione lanzó el modelo 1030 (ASaP), combinando limpieza por plasma, etching por haz de iones, plasma RIE y recubrimiento por sputter en un solo sistema, perfeccionando la preparación de muestras para SEM.

Y en 2004, la innovación continuó con el equipos NanoMill 1040, el primer adelgazador iónico de haz estrecho (1 μm a 2,000 eV) para muestras TEM, con energías tan bajas como 50 eV.

Hoy, los equipos de Fischione Instruments están presentes en más de 500 laboratorios de investigación alrededor del mundo, ayudando a microscopistas, investigadores de materiales y otros profesionales de sectores como siderurgia, semiconductores, aeroespacial y defensa a obtener resultados precisos y de alta resolución.